| 发明名称 |
X-ray examination apparatus. |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP0607634(A3) |
申请公布日期 |
1995.05.17 |
| 申请号 |
EP19930203683 |
申请日期 |
1993.12.24 |
| 申请人 |
PHILIPS ELECTRONICS NV |
发明人 |
CRINS WILHELMUS ANTONIUS;VAN DEN BERK WILHELMUS MARTINU;VON RETH ERIC ALBERT;RIJPERT HERMANUS PETRUS MARIA |
| 分类号 |
H04N5/202;H04N5/32;(IPC1-7):H04N5/32 |
主分类号 |
H04N5/202 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
