发明名称 IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH07127880(A) 申请公布日期 1995.05.16
申请号 JP19930278782 申请日期 1993.11.09
申请人 NEC KYUSHU LTD 发明人 HIDETOKU SUSUMU
分类号 F24F3/00;F24F7/06;F25D1/00;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):F24F3/00 主分类号 F24F3/00
代理机构 代理人
主权项
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