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发明名称 Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
摘要
申请公布号 DE4100014(C2) 申请公布日期 1995.05.11
申请号 DE19914100014 申请日期 1991.01.02
申请人 SIEMENS NIXDORF INFORMATIONSSYSTEME AG, 33106 PADERBORN, DE 发明人 BAITZ, GUENTER, 1000 BERLIN, DE;HEBENSTREIT, RALF, 1000 BERLIN, DE;REICHERT, INGO, 1000 BERLIN, DE
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28;H05K13/08 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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