发明名称 MEASUREMENT OF INTERNAL DEFECT OF SEMICONDUCTOR WAFER
摘要
申请公布号 JPH07106389(A) 申请公布日期 1995.04.21
申请号 JP19930253310 申请日期 1993.10.08
申请人 MITSUBISHI MATERIALS CORP;MITSUBISHI MATERIALS SHILICON CORP 发明人 KONDO HIDEYUKI;TATSUTA JIRO;SHINGYOUCHI TAKAYUKI
分类号 G01N22/02;G01N33/00;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N22/02
代理机构 代理人
主权项
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