| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING ADHESIVE MATTER |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH07103863(A) |
申请公布日期 |
1995.04.21 |
| 申请号 |
JP19930244844 |
申请日期 |
1993.09.30 |
| 申请人 |
RYODEN SEMICONDUCTOR SYST ENG KK;MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
MAEDA SEIJI;TANAKA HIROSHI |
| 分类号 |
G01N15/00;G01N1/02;G01N1/22;G01N15/14;(IPC1-7):G01N1/02 |
主分类号 |
G01N15/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
