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发明名称 Membran-Untersuchung mit fokussierendem Probeauflegen.
摘要
申请公布号 DE3851744(T2) 申请公布日期 1995.04.20
申请号 DE19883851744T 申请日期 1988.12.01
申请人 QUIDEL CORP., SAN DIEGO, CALIF., US 发明人 HAY-KAUFMAN, MARTHA L., LOS ALTOS, CA 94022, US;BECKER, ROSETTE, PALO ALTO, CA 94303, US;DANISCH, ROBERT, FREMONT, CA 94555, US
分类号 G01N33/543;G01N33/76;(IPC1-7):G01N33/53 主分类号 G01N33/543
代理机构 代理人
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