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发明名称 Integrierte Halbleiterschaltung mit Ein- und Ausgangsanschlüssen, die einen unabhängigen Verbindungstest erlauben.
摘要
申请公布号 DE68918040(T2) 申请公布日期 1995.04.20
申请号 DE19896018040T 申请日期 1989.10.16
申请人 NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 OHFUJI, KAZUYOSHI C/O NEC CORPORATION, MINATO-KU TOKYO 108-01, JP
分类号 G01R31/02;G01R31/28;G01R31/317;G11C7/10;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;H03K19/00;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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