| 发明名称 |
ENDURANCE TEST METHOD OF FLASH MEMORY |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH0793986(A) |
申请公布日期 |
1995.04.07 |
| 申请号 |
JP19930263023 |
申请日期 |
1993.09.27 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI MICOM SYST:KK |
发明人 |
KAMEYAMA HIDEAKI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G11C16/06;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C16/06 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
