发明名称 TEST CIRCUIT OF IC LOGIC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0792228(A) 申请公布日期 1995.04.07
申请号 JP19930256496 申请日期 1993.09.20
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 HIRAO KATSUHIKO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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