| 发明名称 |
Meßplatine zur Qualitätssicherung von Halbleitern mit spezieller Meßspitzendurchführung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE9411360(U1) |
申请公布日期 |
1995.04.06 |
| 申请号 |
DE19940011360U |
申请日期 |
1994.07.13 |
| 申请人 |
PROBE-CARD-SERVICE GMBH, 81541 MUENCHEN, DE |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R1/073;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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