发明名称 Verfahren zur automatischen Bereichskontrolle für eine Meßvorrichtung für die optische Dichte oder den Rasterpunkt-Flächenanteil
摘要
申请公布号 DE3536245(C2) 申请公布日期 1995.04.06
申请号 DE19853536245 申请日期 1985.10.10
申请人 DAI NIPPON INSATSU K.K., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 KOBAYASHI, YUJI, AGEO, SAITAMA, JP;TAKAHASHI, NORIO, TOKIO/TOKYO, JP
分类号 G01N21/59;(IPC1-7):G01J1/42;G01N21/55;G01B11/28 主分类号 G01N21/59
代理机构 代理人
主权项
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