QUALITATIVE ANALYSIS METHOD USING X-RAY DIFFRACTION,申请号JP19930249669-传众专利搜索

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发明名称	QUALITATIVE ANALYSIS METHOD USING X-RAY DIFFRACTION
摘要
申请公布号	JPH0783857(A)	申请公布日期	1995.03.31
申请号	JP19930249669	申请日期	1993.09.13
申请人	RIGAKU CORP	发明人	DOSHIYOU AKIHIDE
分类号	G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/207	主分类号	G01N23/207
代理机构		代理人
主权项
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