| 发明名称 |
Gauge for measuring the thickness of a coating on a substrate. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0481334(B1) |
申请公布日期 |
1995.03.29 |
| 申请号 |
EP19910117145 |
申请日期 |
1991.10.08 |
| 申请人 |
DEFELSKO CORPORATION |
发明人 |
KOCH, FRANK J.;WALMER, MARLIN S. |
| 分类号 |
G01B7/00;G01B7/06;(IPC1-7):G01B7/06 |
主分类号 |
G01B7/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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