发明名称 Method and apparatus for measuring thickness of thin films.
摘要
申请公布号 EP0397388(B1) 申请公布日期 1995.03.22
申请号 EP19900304800 申请日期 1990.05.02
申请人 THERMA-WAVE, INC. (A DELAWARE CORPORATION) 发明人 GOLD, NATHAN;OPSAL, JON;WILLENBORG, DAVID L.;ROSENCWAIG, ALLAN
分类号 G01B11/06;G01N21/21;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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