| 发明名称 | 高温超导薄膜微波表面电阻测试装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明属超导电子学领域，特别是用于检测高温超导薄膜微波表面电阻的测试装置及方法。它由测试座、被测样品、压板、密封盖及两个校准件组成。由于在结构上采用了固定测试座方案；在工作谐振模式上选用了TE<SUB>001+δ</SUB>；在测试方法上提出了利用对称结构进行“零表面电阻”校准及Q<SUB>0</SUB>＝A+BR<SUB>s</SUB>公式，从而实现了单片高温超导薄膜微波表面电阻R<SUB>s</SUB>的高灵敏度、高精度及非损伤测量。 | ||
| 申请公布号 | CN1100522A | 申请公布日期 | 1995.03.22 |
| 申请号 | CN93115387.5 | 申请日期 | 1993.11.16 |
| 申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 卢剑;张其劭 |
| 分类号 | G01R27/02 | 主分类号 | G01R27/02 |
| 代理机构 | 电子科技大学专利事务所 | 代理人 | 严礼华 |
| 主权项 | 1、高温超导薄膜微波表面电阻测试装置，其特征在于它由测试座(1)、被测样品(2)、压板(3)、密封盖(4)、校准件(5)和校准件(6)组成，其测试座(1)是一个固定不动件，由介质圆柱(9)固定在支撑环(8)上后再固定在截止圆波导(7)的内壁上，耦合传输线(10)装在截止圆波导(7)的另一端面上或壁上组成；被测样品(2)或校准件(5)置于测试座(1)的端面上；压板(3)压在被测样品(2)或校准(5)上；密封盖(4)罩被测样品(2)或校准件(5)和压板(3)，与测试座(1)的端面密封固定并可折卸；校准件(5)为金属平板；校准件(6)的结构、尺寸和电性能均与测试座(1)相同，只是无耦合传输线(10)。 | ||
| 地址 | 610054四川省成都市建设北路二段四号 | ||