| 发明名称 |
INSPECTION SYSTEM FOR FAULT OF LOGIC CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0773068(A) |
申请公布日期 |
1995.03.17 |
| 申请号 |
JP19930217312 |
申请日期 |
1993.09.01 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD;FUJITSU SOCIAL SCI LAB:KK |
发明人 |
HISAMA KEIJI;HIROSE FUMIYASU |
| 分类号 |
G06F11/26;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G06F11/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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