发明名称 METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0773665(A) 申请公布日期 1995.03.17
申请号 JP19930171178 申请日期 1993.06.16
申请人 NEC CORP 发明人 HAGIWARA MUNEYUKI
分类号 G11C11/401;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C11/401 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
主权项
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