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发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST CIRCUIT AND MANUFACTURE THEREOF
摘要
申请公布号 JPH0774319(A) 申请公布日期 1995.03.17
申请号 JP19930220767 申请日期 1993.09.06
申请人 NEC IBARAKI LTD 发明人 TAKIZAWA TADASHI
分类号 G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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