晶片上之积体电路选速测试电路

摘要

一种电子电路，用来检测一个或多个积体电路半导体晶片所需之操作速度，联合一个现有之积体电路测试器来进行测试。该测试器用来提供计时、显示、和控制。每一个积体电路半导体晶片设有一个环式振荡器电路用来产生一系列之脉波，在一个固定之时间期间，由该测试器来计时。在每一个半导体晶体形成有一个计数器，用来计数在一个固定时间期间所产生之脉波之数目。在测试器所产生之藉以表示操作所需速度之数目被设定在闩锁组合，该闩锁组合形成在每一个半导体晶片。亦形成在每一个半导体晶片上之比较器用来使闩锁之内容和计数器之内容互相比较，假如该计数器之内容等于或大于闩锁之内容时，该被测试之半导体晶片就被认定为合格。然后利用该测试器之显示器来显示其结果。假如操作速度很高，则该藉以表示操作所需速度之数目就被除以如同２之除数。振荡器之输出亦被除以２，促成不会超过计数器和闩锁之大小。

主权项

1.一种电子电路,用来检测一个或多个积体电路半 导体晶 片所需之操作速度,联合一个积体电路测试器来进 行测试 藉以提供计时,显示,和控制信号CLK,包含有:(a)振荡 器电路,形成在该一个或多个半导体晶片之每一个 ,用来 产生一系列之脉波,由测试器来计时,被连接成以 一个固 定之时间期间对该振荡器进行计时;(b)计数器,被 连接 到该振荡器和形成在该一个或多个半导体晶片之 每一个, 用来计数在该固定之时间期间所产生之脉波之数 目;(c) 储存器,形成在该一个或多个半导体晶片之每一个 ,用来 保持一个数目藉以表示操作所需速度;和(d)比较器 ,形 成在该一个或多个半导体晶片之每一个,用来使藉 以表示 操作所需速度之数目和在该固定之时间期间所计 数到之脉 波之数目互相比较,然后输出到显示器,用来表示 所计数 到之脉波之数目是否等于或大于藉以表示所需速 度之数目 ,用以识别一个晶片是否具有所需之操作速度。2. 如申请专利范围第1项之电路,其中该振荡器电路 包含 有一个环式振荡器。3.如申请专利范围第2项之电 路,其中该计数器包含有N 级。4.如申请专利范围第3项之电路,其中该储存器 包含有闩 锁装置。5.如申请专利范围第4项之电路,其中该藉 以表示所需速 度之数目在进入闩锁装置之前被一个除数除,和更 包含有 一个除算器,用来接收在一个固定之时间期间所计 数到之 来自环式振荡器之一系列脉波,然后使其被该除数 除。6.如申请专利范围第5项之电路,其中该闩锁装 置包含有 N个闩锁。7.如申请专利范围第6项之电路,其中该 比较器包含有N 级。8.如申请专利范围第7项之电路,其中N=7。9.如 申请专利范围第8项之电路,其中该除数=2。10.如申 请专利范围第9项之电路,其中该振荡器经由信 号CLK之确定而被启动,和经由信号CLK之解确定而被 解除 启动。附图是形成在本创作所需之半导体晶片之 积体组件