| 发明名称 |
FLAW INSPECTION APPARATUS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0763699(A) |
申请公布日期 |
1995.03.10 |
| 申请号 |
JP19930239201 |
申请日期 |
1993.08.30 |
| 申请人 |
SUMITOMO METAL IND LTD |
发明人 |
YOKOYAMA KOICHI;UMEDA SEIJI;WADA MASATO;ONAKA MINORU |
| 分类号 |
B21C51/00;G01N21/88;G01N21/89;G01N21/892;G01N27/82;(IPC1-7):G01N21/89 |
主分类号 |
B21C51/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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