| 发明名称 |
TEST-PATTERN GENERATOR SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH0763825(A) |
申请公布日期 |
1995.03.10 |
| 申请号 |
JP19930216016 |
申请日期 |
1993.08.31 |
| 申请人 |
MITSUBISHI DENKI SEMICONDUCTOR SOFTWARE KK;MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
ODA KEIZO |
| 分类号 |
G01R31/3183;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
