IC TESTING DEVICE,申请号JP19930207429-传众专利搜索

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发明名称	IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号	JPH0755882(A)	申请公布日期	1995.03.03
申请号	JP19930207429	申请日期	1993.08.23
申请人	YOKOGAWA ELECTRIC CORP	发明人	KOYAMA KIYOAKI
分类号	G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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