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经营范围
发明名称 ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPH0757677(A) 申请公布日期 1995.03.03
申请号 JP19930199360 申请日期 1993.08.11
申请人 TOPCON CORP 发明人 YANAKA TAKASHI;YOKOKURA TAKASHI
分类号 H01J37/141;H01J37/252;(IPC1-7):H01J37/141 主分类号 H01J37/141
代理机构 代理人
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