发明名称 Circuits Driver pour testeur de circuits intégrés.
摘要 <P>Circuit driver pouvant également faire fonction de circuits de terminaison et de blocage dans un testeur de CI. Lorsqu'elle doit attaquer un port d'un DEE (dispositif en essai) entre deux niveaux de tension prédéfinis, la borne E/S (entrée/sortie) du driver est commutée entre deux niveaux de tension prédéfinis à une impédance de sortie adaptée à la ligne de transmission située entre le circuit driver et le DEE. Lorsque le port du DEE délivre un signal de sortie, le circuit driver peut être programmé pour assurer deux types de terminaison. Si le port du DEE est spécifié pour attaquer la charge, la ligne de transmission située entre le circuit driver et le DEE est terminée en commutant la borne E/S du driver à un niveau de tension prédéfini à une impédance Zo . Si le port du DEE n'est pas spécifié pour attaquer une telle charge de terminaison, le circuit driver fonctionne comme un circuit à blocage en Z.</P>
申请公布号 FR2709351(A1) 申请公布日期 1995.03.03
申请号 FR19940009792 申请日期 1994.08.02
申请人 SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES INC 发明人 HERLEIN RICHARD F.;SANIELEVICI SERGIO A.;WEST BURNELL G.;CHEUNG DAVID K.
分类号 G01R31/28;G01R31/319;H03K5/02;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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