发明名称 METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING OBJECT OF MEASUREMENT BY LOCALLY RESOLVING MAGNETIC RESONANCE
摘要
申请公布号 JPH0751249(A) 申请公布日期 1995.02.28
申请号 JP19940057404 申请日期 1994.03.28
申请人 SIEMENS AG 发明人 MARUKUSU FUON KIINRIN
分类号 A61B5/055;G01R33/3875;G01R33/54;(IPC1-7):A61B5/055 主分类号 A61B5/055
代理机构 代理人
主权项
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