发明名称 Procédé de métallisation d'un circuit intégré.
摘要 <P>Procédé de métallisation d'un circuit intégré consistant à fournir une couche isolante sur la surface d'un substrat de semi-conducteur, fournir au moins une ouverture pour contact à travers ladite couche isolante vers ledit substrat de semi-conducteur, déposer une couche métallique de connexion sur la surface dudit substrat et à l'intérieur de ladite ouverture pour contact dans laquelle la plus grande partie dudit métal de connexion est dépmosée sur le fond de ladite ouverture pour contact plutôt que sur les côtés de ladite ouverture; pulvériser à froid une couche métallique sur ladite couche métallique de connexion, et pulvériser à chaud une couche métallique sur ladite couche métallique pulvérisée à froid, dans lequel ladite pulvérisation à chaud et à froid sont des opérations continues pour réaliser ladite métallisation dudit circuit intégré.</P>
申请公布号 FR2709207(A1) 申请公布日期 1995.02.24
申请号 FR19940002273 申请日期 1994.02.28
申请人 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH 发明人 KUANG-CHAO CHEN;SHAW TZENG HSIA
分类号 C23C14/34;H01L21/285;H01L21/3205;H01L21/74;H01L21/768;H01L23/52;H01L23/522;H01L23/532;(IPC1-7):H01L21/768 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人
主权项
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