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发明名称 SEMICONDUCTOR CHIP WITH IMPROVED ABILITY FOR TESTING THE LARGE SCALE INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP0010173(B1) 申请公布日期 1983.03.02
申请号 EP19790103513 申请日期 1979.09.19
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 DOTY JR., CHARLES RANDALL;MUEHLDORF, EUGEN IGOR;SHAH, HIMANSHU GAMANLAL
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):01R31/28;06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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