发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY TESTER
摘要
申请公布号 KR950001292(B1) 申请公布日期 1995.02.15
申请号 KR19910000104 申请日期 1991.01.07
申请人 ADVANTEST CO., LTD. 发明人 KANAI, JUNICHI
分类号 G01R31/28;G01R31/3193;G06F11/22;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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