| 发明名称 |
TEST METHOD AND APPARATUS FOR MEGABIT MEMORY MODULE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS63106997(A) |
申请公布日期 |
1988.05.12 |
| 申请号 |
JP19870253452 |
申请日期 |
1987.10.06 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
NORUMAN RIISUKE;UERUNAA ZAIHITAA |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/267;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/34;G11C29/56 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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