| 发明名称 |
TEMPERATURE MEASURING METHOD AND NON-DESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0735620(A) |
申请公布日期 |
1995.02.07 |
| 申请号 |
JP19930176419 |
申请日期 |
1993.07.16 |
| 申请人 |
MITSUI TOATSU CHEM INC |
发明人 |
SAKAGAMI TAKAHIDE;OGURA KEIJI;YAMANAKA HIDESUKE;KIJIMA SHIGEKI |
| 分类号 |
G01J5/48;G01N25/72;(IPC1-7):G01J5/48 |
主分类号 |
G01J5/48 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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