发明名称 | 非易失性半导体存储装置 | ||
摘要 | 对触发电路施加强制反转装置,以免受位线间干扰的影响且不增大消耗功率的方式,实现位线验证。本发明的非易失性半导体存储装置,其特征在于包括:以第1/第2状态保持写入数据的触发电路1;与触发电路连接着的位线BL;对位线BL充电的晶体管Q3;以及阈值取在第1/第2范围以存储信息的存储单元2。还有,具备强制反转手段,在接着写入动作进行验证动作时,与存储单元2的存储数据相对应地将触发电路的一端与规定的电位连接起来,强制性地设定保持数据。 | ||
申请公布号 | CN1098220A | 申请公布日期 | 1995.02.01 |
申请号 | CN94103081.4 | 申请日期 | 1994.03.31 |
申请人 | 东芝株式会社 | 发明人 | 宫本顺一;伊藤宁夫;岩田佳久 |
分类号 | G11C11/419;G11C17/08 | 主分类号 | G11C11/419 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 竹民 |
主权项 | 1、一种非易失性半导体存储装置,其特征在于,它包括:以第1状态及第2状态保持写入数据的触发电路,连接该触发电路的位线,将该位线充电的充电装置,包括与上述位线相连,通过将其阈值取在第1范围及第2范围内从而存储信息的晶体管的非易失性存储单元,在写入动作中,当上述双稳电路保持上述第1状态时,使上述阈值从上述第1范围朝第2范围方向变化,当上述双稳电路保持上述第2状态时,上述阈值的变化受到抑制,在写入动作之后所进行的验证动作中,当上述阈值处于第2范围内时,使上述充电装置充电后的上述位线处于第1电位。强行翻转装置,在上述验证动作中,当上述位线处于上述第1电位时,通过将上述双稳电路的一端接至规定电位,使该双稳电路进入上述第2状态,而不管其在验证之前保持何种状态。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |