APARATO DE SELECCION AUTOMATICA DE RELOJ DE PRUEBA.

摘要

Un circuito integrado (IC 100) incluye circuitos para generar una señal dereloj (CLOCK) durante un modo normal de operación y durante un modo deoperación de prueba. Durante el modo normal, la señal de reloj de entradaes retardada mediante un corrector de distorsión (135). En el modo deprueba, una señal de reloj de prueba de entrada (TEST CLOCK) deriva elcorrector de distorsión por medio de un selector (150) de fuente de señalde reloj. El selector de fuente de señal de reloj es controladoautomáticamente mediante un detector de modo (140) que responde a lasseñales de reloj de entrada, para determinar el modo de operación de CI.