摘要 |
<p>Adapter zur Anpassung des gleichmäßigen Kontaktrasters einer elektrischen Prüfvorrichtung für Leiterplatten an die ungleichmäßige Kontaktkonfiguration der Anschlußpunkte auf einer ein- oder beidseitig zu prüfenden Leiterplatte mit nadelartigen Prüfstiften, die mit ihrem einen Ende auf den regelmäßig verteilten Kontakten des Kontaktfeldes der Prüfvorrichtung aufliegen, sich durch die Prüfstiftkanäle des Adapters erstrecken und mit ihren anderen Enden die meistens unregelmäßig verteilten Anschlußpunkte der zu prüfenden Leiterplatte kontaktieren, wobei die Deckfläche des Adapters an der zu kontaktierenden Fläche der Leiterplatte und die Bodenfläche des Adapters auf dem Kontaktfeld der Prüfvorrichtung anliegt. Um einen kostengünstig herzustellenden, für die beidseitige Prüfung von Leiterplatten sehr hoher Kontaktdichte zu verwendenden Adapter vorzusehen, wird vorgeschlagen, daß der Adapter im Bereich zwischen seiner Bodenfläche und seiner Deckfläche ein im wesentlichen inkompressibler Vollmaterialkörper geringer Dichte und hoher Flächendruckfestigkeit ist, der durchgängig von den Prüfstiftkanälen durchsetzt ist. Dabei können glatte konturlose 'music wire' Prüfstifte zum Einsatz kommen, bei denen ein Kopf ausgebildet wird durch einfaches kreis- oder hakenförmiges Umbiegen des einen Prüfstiftendes.</p> |