首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Test pattern generation
摘要
申请公布号 GB2259424(B) 申请公布日期 1995.01.25
申请号 GB19920007071 申请日期 1992.03.31
申请人 * SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED 发明人 IL-KU * NA
分类号 H04N5/38;H04N5/445;H04N17/06;(IPC1-7):H04N17/06 主分类号 H04N5/38
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com