METHOD FOR JUDGING CONFORMANCE AND NON-CONFORMANCE OF DELAY IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,申请号JP19930150821-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR JUDGING CONFORMANCE AND NON-CONFORMANCE OF DELAY IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH0720203(A)	申请公布日期	1995.01.24
申请号	JP19930150821	申请日期	1993.06.22
申请人	KAWASAKI STEEL CORP	发明人	TAKENOBU SEIJI
分类号	G01R31/28;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
地址