Circuit intégré du type microcontroleur à mémoire morte masquée contenant un programme générique de test, station de test et procédé de fabrication correspondants.

摘要

L'invention concerne un circuit intégré du type microcontrôleur (11) comprenant un cœur de processeur (13) susceptible d'échanger des données avec au moins un élément de stockage et/ou de traitement de données (16 à 110).
Selon l'invention, ledit circuit intégré (11) comprend une mémoire morte masquée à lecture seule (14) contenant notamment un programme générique de test (21) pouvant être exécuté par ledit microcontrôleur (11), ladite mémoire morte masuée (14) étant programmée par masque de façon définitive lors de la fabrication dudit circuit intégré (11).