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发明名称 JIG AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR ELEMENT
摘要
申请公布号 JPH0712892(A) 申请公布日期 1995.01.17
申请号 JP19930156499 申请日期 1993.06.28
申请人 NEC CORP 发明人 TAGO MASAKI
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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