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发明名称 IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0712900(A) 申请公布日期 1995.01.17
申请号 JP19930144152 申请日期 1993.06.16
申请人 HIROSHIMA NIPPON DENKI KK 发明人 SEHATA TAKASHI
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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