| 发明名称 |
TEST METHOD FOR QUALITY OF OPTICAL DISK AND DEVICE THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11154339(A) |
申请公布日期 |
1999.06.08 |
| 申请号 |
JP19980269749 |
申请日期 |
1998.09.24 |
| 申请人 |
LG ELECTRON INC |
发明人 |
KIM DAE-YANG;IEO UUN-SEON;KIM HYUN-KYU;BAE DON-SEOK |
| 分类号 |
G01M11/00;G11B7/0037;G11B7/09;G11B7/26;(IPC1-7):G11B7/09 |
主分类号 |
G01M11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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