发明名称 补偿电路装置
摘要 一种电阻电桥之补偿电路,校正其信号输出中之响应误差,并具有一电压控制之电流源跨接在电力输入和接地参考上,以提供一电桥激励输出电流,其与固定电路参考电压成比例。一缓冲放大器置于电力输入处,产生一缓冲输出电压与电力输入成比例。一测仪类放大器置于信号输出处,产生一启始输出与信号输出响应成比例。一可规划增益放大器置于启始输出处,提供一补偿输出与电压压功响应独立。一补偿网路之增益校正部分补偿电桥响应中之变化,及一偏移校正部分产生一启始偏移电流以响应于缓冲输出电压。一偏移校正放大器产生一校正信号。该缓冲输出电压和该启始偏移电流随温度变化,提供该校正信号之温度依赖部分。一侧仪类放大器之参考输入使手此校正信号和修正此启始输出作抵消信号输出响应中偏移误差之固定和温度依赖部分。此偏移校正部分调整固定部分而与温度依赖部分独立。一单独电阻调整固定部分之正值或负值。另一电阻调整温度依赖部分之正或负之斜率。
申请公布号 TW238355 申请公布日期 1995.01.11
申请号 TW080107970 申请日期 1991.10.09
申请人 贝登狄金森公司 发明人 约翰W.雷恩兹
分类号 G01L9/06;G01L19/04 主分类号 G01L9/06
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项 合物为主成份之感湿体者。4.如申请专利范围第1, 2或3项所述之湿度察觉器,其 中,在基板上,将感湿体形成皮膜状者。5.如申请专 利范围第1,2或3项所述之湿度察觉器,其 中,如覆盖感湿体部份地,被形成有含氟高分子膜 者。6.如申请专利范围第1,2或3项所述之湿度察觉 器,其 中,使用圆形之梳形电极者。7.如申请专利范围第1 ,2或3项所述之湿度察觉器,其 中,端子部,对感湿膜在基板之相反面者。8.如申请 专利范围第1,2或3项所述之湿度察觉器,其 中,在感湿膜边之面的电极,和在和感湿膜相反边 之面的 端子部,系透过在基板设之通孔或基板之侧面电性 地连接 者。9.如申请专利范围第1,2或3项所述之湿度察觉 器,其 中,做为基板,使用氧化铝基板或玻璃基板或矽基 板者。10.如申请专利范围第1,2或3项所述之湿度察 觉器, 其中,做为基板,使用形成绝缘膜之矽基板者。11. 如申请专利范围第1,2或3项所述之湿度察觉器, 其中,做为电极,使用从Au,Ag,Pt,Pd之中被选的金属 或至少含有此等元素之一的合金所形成之梳形电 极者。12.一种湿度察觉器之制造方法,其特征为, 在基板上, 涂敷包含锰离子和铅离子和 金属离子之溶液后, 由热处 理形成感湿膜者。13.一种湿度察觉器之制造方法, 其特征为,在基板上, 涂敷包含锰离和 金属离子之溶液后,由热处理形 成感湿 膜者。14.一种湿度察觉器之制造方法,其特征为, 在基板上, 涂敷包含铅离子和 金属离子之溶液后,由热处理 形成感 湿膜者。图1,为本发明的湿度察觉器之斜视图。 图2, 为本发明的湿度察觉器之感湿特性图。图3,为本 发明的 湿度察觉器之斜视图。图4,为本发明的湿度察觉 器之感 湿特性图。图5-图14,皆为本发明的湿度察觉器之 感湿 特性图。图15,为本发明的湿度察觉器之斜视图。 图16, 为本发明的湿度察觉器之感湿特性图。图17,为本 发明的 湿度察觉器之电极图型图。图18,为将本发明的湿 度察觉 器实装之例的剖面图。图19,为本发明的湿度察觉 器之剖 面图。图20,为本发明的湿度察觉器之剖面图。图 21,为 本发明的湿度察觉器之剖面图。图22,为本发明的 湿度察 觉器之感湿特性图。图23,为本发明的湿度察觉器 之应答
地址 美国