| 主权项 |
1.一种依物件表面特征以分类物件之自动检视装 置,检视装置包含: 一空室; 输送装置,用于输送该物件通过该空室; 照明装置,当物件在空室内时,用于照明其表面; 一摄影机,在物件通过空室时用于捕捉该表面之一 电子影像;及 处理装置,用于处理影像以将物件分类,该处理装 置被安排成分析该表面特性的特征,决定每一个特 征出现在影像中的程度,以及根据该决定分类该物 件。2.根据申请专利范围第1项之自动检视装置,其 中输送装置系以定速将物件输送过该空室,而摄影 机为一高速摄影机,可在物件移过空室时捕捉物件 表面之高鲜明度影像。3.根据申请专利范围第1或2 项之自动检视装置,其另包含控制装置,用于控制 摄影机之操作、监视空室内之环境状况及连通处 理装置,分类程序之结果系由处理装置所进行。4. 根据申请专利范围第1项之自动检视装置,其另包 含位置决定装置,用于追踪物件进入、通过及离开 空室。5.根据申请专利范围第4项之自动检视装置, 其中摄影机捕捉操作系取决于来自该位置决定装 置之输出。6.根据申请专利范围第1项之自动检视 装置,其中该空室用于防止光线自外界进入空室内 ,其另包含非反射性之吸光内壁。7.根据申请专利 范围第1项之自动检视装置,其中该照明装置包含 复数个做为光源之灯具及一在空室内形成散射光 线之扩散结构。8.根据申请专利范围第7项之自动 检视装置,其中该扩散结构包含一粗扩散器、一镜 面及一细扩散器,镜面接收由粗扩散器散射之光线 并将其反射至细扩散器。9.根据申请专利范围第1 项之自动检视装置,其中该摄影机位置可在一物件 定位于空室内之一预定位置时,使摄影机仅自该物 件之表面接收非反射地反射扩散光线。10.根据申 请专利范围第1项之自动检视装置,其中滤光装置 系接于该摄影机,以改善其对电磁光谱可见光区之 感应度。11.根据申请专利范围第1项之自动检视装 置,其中滤摄影机包含一变焦镜头且具有可控制之 变焦镜、焦距及光圈装置。12.根据申请专利范围 第1项之自动检视装置,其另包含一设于该空室内 之测量参考物,以做摄影机之测量。13.根据申请专 利范围第1项之自动检视装置,其另包含一冷却系 统,用于冷却摄影机与电脑周围环境。14.根据申请 专利范围第1项之自动检视装置,其另包包含防止 表面在该空室内受灰麈污染之装置。15.一种依物 件表面特征以分类物件之自动检视装置,检视装置 包含: 输送装置,用于输送该物件至一影像感应位置; 照明装置,当该物件在该影像感应位置时用于照明 其表面; 一摄影机,当物件通过影像感应位置时用于捕捉该 表面之一电子影像;及 处理装置,用于处理影像以将物件分类。16.根据申 请专利范围第15项之自动检视装置,其中输送装置 系以定速将物件输送过该影像感应位置,而摄影机 为一高速摄影机,可在物件移过影像感应位置时捕 捉物件表面之高鲜明度影像。17.根据申请专利范 围第15或16项之自动检视装置,其中该摄影机系一 直线扫描摄影机,用以捕捉该物件之部份影像,其 可用电子方式重新构成物件之完整影像。18.根据 申请专利范围第17项之自动检视装置,其中该摄影 机系一时间领域积分式摄影机。19.根据申请专利 范围第15项之自动检视装置,其另包含一高速快门 装置,用于调整摄影机之曝光。20.根据申请专利范 围第15项之自动检视装置,其另包含控制装置,用于 控制摄影机之操作、监视在影像捕捉下之周围状 况及连通于处理装置,分类程序之结果系由处理装 置进行。21.根据申请专利范围第15项之自动检视 装置,其另包含位置决定装置,用于追踪物件进入 、通过及离开影像感应位置。22.根据申请专利范 围第21项之自动检视装置,其中该位置决定装置系 用于对准及导引该物件通过该影像感应位置。23. 根据申请专利范围第21或22项之自动检视装置,其 中摄影机捕捉操作系取决于来自该位置决定装置 之输出。24.根据申请专利范围第15项之自动检视 装置,其中该摄影机系围封于一封闭室内,该室可 令光线仅由设于该影像感应位置之一窗孔,而自外 界进入室内,且该空室包含非反射性之吸光内壁。 25.根据申请专利范围第24项之自动检视装置,其中 该照明装置包含一或多个做为光源之高频萤光灯 具,系设于该空室内,以通过该空室之窗孔而照射 该物件。26.根据申请专利范围第15项之自动检视 装置,其中该照明装置包含将光线反射向该窗孔之 反射器。27.根据申请专利范围第15项之自动检视 装置,其中该摄影机位置可在一物件定位于影像感 应位置时,使摄影机仅自该物件之表面接收非反射 地反射扩散光线。28.根据申请专利范围第15项之 自动检视装置,其中滤光装置系接于该摄影机,以 改善其对电磁光谱可见光区之感应度。29.根据申 请专利范围第15项之自动检视装置,其中该摄影机 具有可控制之光圈装置。30.根据申请专利范围第 15项之自动检视装置,其另包含一设于该影像感应 位置之测量参考物,以做摄影机之测量。31.根据申 请专利范围第15项之自动检视装置,其另包含防止 该测量参考物表面受灰尘污染之装置。32.根据申 请专利范围第15项之自动检视装置,其另包含一冷 却系统,用于冷却摄影机与电脑周围环境。33.根据 申请专利范围第32项之自动检视装置,其中该冷却 系统包含一空调系统。34.根据申请专利范围第32 项之自动检视装置,其中该冷却系统包含用于冷却 该摄影机之热泵及散热口。35.根据申请专利范围 第1或15项之自动检视装置,其中备有一装置,用于 令摄影机影像可做补偿而消除加工品效应,例如因 工作年照明不均匀或温差或补偿不同摄影机光素 输出变化而引起之效应。36.根据申请专利范围第1 或15项之自动检视装置,其中该处理装置包含一影 像处理器,用于将影像资料转换成一列特性値表, 并依该列表之依据而将物件分类。37.根据申请专 利范围第1或15项之自动检视装置,其中该处理装置 包含一电脑,可经程式设计而执行复数个特性抽样 互除式及一利用磁砖等级间之效率差别做准据而 令特性抽样互除式分级之分级互除式,并有一使用 者介面,可供使用者在装置为练习模式中指定物定 之类别与等级,并可在练习模式与运作模式之间转 换。38.一种自动分类装置,包含前述申请专利范围 第1或15项之自动检视装置,以及一依该自动检视装 置而反应之机械式分类装置,用于依该自动检视装 置所决定之类别依据而将物体分类。39.根据申请 专利范围第38项之自动分类装置,其中该机械式分 类装置包含一输入感应器,可在一先前已分类之物 件到达该机械式分类装置时做决定。40.根据申请 专利范围前述任一项之自动分类装置,其中该物件 包含一磁砖。41.一种自动检视装置,用于依据一工 作件之表面式样及/或颜色及/或纹理而加以分类, 该检视装置包含: 输送装置,用于输送该工作件至一影像感应位置; 照明装置,用于均匀照明在该影像感应位置之该工 作件; 一摄影机,用于记录该工作件在该感应位置之影像 ;及 处理装置,用于处理影像,该处理装置可决定复数 个工作件特性,并利用这些特性决定工作件之类别 。图式简单说明: 第一图系本发明自动分类装置第一实例之简示方 块图; 第二图系第一图自动分类装置影像捕捉室之截面 示意图; 第三图系一练习期间之分类器程式操作流程图; 第四图系一运作期间之分类器程式操作流程图; 第五图系取自一摄影机在供摄影机测量之测量目 标影像捕捉室图; 第六图系一流程图,揭示不同之处理步骤,其相关 于量测构成第一图自动分类装置一部份之摄影机 双焦镜之测量; 第七图系一流程图,揭示不同之处理步骤,其相关 于摄影机之焦距测量; 第八图系一流程图,揭示用于摄影机光圈测量过程 之第一部份; 第九图系一流程图,揭示用于摄影机光圈测量过程 之第二部份; 第十图A、第十图B分别为第一图举例自动检视装 置之端视图及侧面图; 第十一图系本发明自动检视装置另一实例之简示 方块图; 第十二图系第十一图自动检视装置之影像捕捉室 与磁砖输送装置截面示意图; 第十三图系第十一图自动分类装置之磁砖追踪装 置俯视示意图; 第十四图系实施本发明之另一自动分类装置截面 示意图;及 第十五图系第十四图自动分类装置之磁砖输送装 置与摄影窗孔之俯视示意图。 |
