发明名称 以至少两种不同临界准位分类粒状物体的方法及装置
摘要 于连续的形体下流动的粒状物体被光所照射,藉由一种预先决定的决定给检测第一准位的粒状物体的不良部分的发光亮度之临界值,来自固态影像装置的影像元素信号被二元化,而上述的影像元素信号亦藉由一种预先决定的决定给检测第二准位的不良部分的发光亮度之临界值而被二元化。第二准位比第一准位适于较浓色调的颜色。当不良影像元素从那些二元化的影像元素里被检测时,一个位于中心位置的不良粒状物体的影像元素被指定根据来自那决定给检测粒状物体外型和指定的不良粒状物体影像元素的预先决定的发光亮度之临界值所二元化的固态影像装置的影像元素信号之数据,而分类信号被输出以作用在相等于那指定的中心位置里的影像元素的不良粒状物体之中心位置。具有浓着色部分的粒状物体,即使为小尺寸,也对产品价值有具影响力且可被有效地排出。藉由不选别粒状物体其具有小而仅淡着色不良部分因此对产品价值不具影响力,使得分类产率得到改进。
申请公布号 TW460337 申请公布日期 2001.10.21
申请号 TW089117923 申请日期 2000.09.01
申请人 佐竹股份有限公司 发明人 佐竹觉;伊藤隆文;惠木正博
分类号 B07C5/342 主分类号 B07C5/342
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种分类粒状物体的方法其包含下列步骤:当流动于连续的形体下之粒状物体正被光所照射之时,藉由一个具有复数个影像元素的固态影像装置进行摄影;以检测第一准位的粒状物体其不良部分的一个预先决定的发光亮度之临界値,从该固态影像装置二元化影像元素信号;从该些二元化的影像元素信号检测一个不良影像元素信号;当连续的不良影像元素之数目超过预先决定的数目时决定为不良的,并当该些信号不超过所提的预先决定的数目之时取消不良影像元素信号;以及对那些已被决定为不良的粒状物体进行一个粒状物体分类程序。2.如申请专利范围第1项的分类粒状物体的方法,其进一步包括下列步骤:以检测较第一准位为浓的第二准位的粒状物体其不良部分的一个预先决定的发光亮度之临界値,从该固态影像装置二元化影像元素信号;以及从那些二元化的影像元素信号对那些已被决定为不良的粒状物体进行一个粒状物体分类程序。3.如申请专利范围第1或2项的分类粒状物体的方法,其进一步包括下列步骤:藉由决定给检测粒状物体外型的一个发光亮度之临界値从所提的固态影像装置来二元化影像元素以指定粒状物体影像元素;根据检测于第一准位或第二准位的不良影像元素指定一些不良粒状物体影像元素;根据所指定的不良粒状物体影像元素指定一个不良粒状物体的中心位置之影像元素;以及相对于在指定的中心位置的影像元素输出一个分类信号以作用在不良粒状物体的该中心位置上。4.如申请专利范围第3项的分类粒状物体的方法,其中指定该不良粒状物体其中心位置的影像元素之步骤包括下列步骤:提供一个位于不良粒状物体影像元素其水平和垂直方向上的对比程序;以预先决定数目之连续的影像元素形成一方块来将该些连续的影像元素分隔成复数个方块,并于一方块单位中将历经对比程序的影像元素放大;由该放大程序所获得的复数个方块的水平方向指定一个中心方块;由该放大程序所获得的复数个方块的垂直方向指定一个中心方块;以及藉由水平方向上的中心方块和垂直方向上的中心方块之间的重叠决定一个中心位置方块。5.如申请专利范围第4项的分类粒状物体的方法,其中当预先决定的复数个连续的方块形成一段组而任何在该段组中的方块已成为中心位置时,为相对于该段组之分类位置而输出一分类信号。6.一种分类粒状物体的装置包含:一于连续的形式下转移粒状物体的运输装置<4,5>;一照明正被转移的粒状物体之照明装置<9a,9b;10a,10b;11a,11b>;一摄影正被照明的粒状物体之固态影像装置<7a,7b;8a,8b>;一去除一个从固态影像装置内影像信号里一预先决定的第一浓度的不良部分之第一二元化装置<26>;一去除一个从固态影像装置内影像信号里一种指定的粒状物体的形状之第二二元化装置<25>;一装备了中心探测电路<41>的影像加工装置用来藉由第二个二元化装置<25>相对于该些不良粒状物体选取该指定的粒状物体其形状的中心位置,该些不良粒状物体在第一个二元化装置<26>所取出的不良部分里包含位在一预先决定的尺寸中但将被取消的一个不良部分以及一个将不为缺陷探测电路<40>所取消的不良部分;一延迟装置<29>用来在一个由指定的粒状物体的转移时间和所提的粒状物体的中心位置给算出的延迟时间的流逝之后输出一个信号;以及一分类装置<34>其根据来自该延迟装置<29>之输出信号作用于不良粒状物体的中心位置。7.如申请专利范围第6项之分类粒状物体的装置,其装备了第三个二元化装置<27>用来去除一种较第一预先决定的浓度为浓之第二预先决定的浓度之不良部分,以及其中该影像加工装置<28>由相对于第三个二元化装置<27>所决定的不良粒状物体之第二个二元化装置<25>所取出的形状选取指定的粒状物体的中心位置。8.如申请专利范围第6或7项之分类粒状物体的装置,其中该影像加工装置<28>包括:于垂直方向和水平方向上来选取不良粒状物体影像元素的装置;以预先决定数目的连续影像来形成一方块来将连续的影像分割成复数个方块,并将已历经对比程序的影像元素在方块单位中放大的装置;以及计算由放大程序所获的复数个方块里水平方向上的不良粒状物体之中心和由放大程序所获的复数个方块里垂直方向上之中心,及根据水平及垂直的方向上所计算的中心来选取粒状物体的中心位置。图式简单说明:第一图为依照本发明的粒状物体分类装置之侧边剖视图;第二图为显示介于依照本发明的滑槽、喷嘴和粒状物体分类装置的测感器元素之间的关系;第三图为来自依照本发明的粒状物体分类装置其CCD测感器的信号其传导信号加工的电路之方块图;第四图(a)为显示由CCD测感器接收的信号之图而第四图(b)、第四图(c)和第四图(d)显示依照本发明的其个别二元化信号;第五图来自依照本发明的粒状物体分类装置其InGaAs测感器的信号其传导信号加工的电路之方块图;第六图(a)和第六图(b)显示依照本发明所探测的着色部分之影像加工的影像;第七图(a)和第七图(h)显示依照本发明所探测的榖粒外型之影像加工的影像;第八图为依照本发明的影像加工之流程图。
地址 日本
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