发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 一种在其相对简单之组态限制下可以展现高gm(大的开启电流)而且具有媲美Si–MOSFET之特性的TFT以下列步骤被制成:在一Mo薄膜上涂布一比方说正光阻;从玻璃基板那一侧在一背闸电极之光罩下使该光阻接受背部曝光,以形成一具有相同几何并与该背闸电极对准之光阻图案,因为该曝光光线被该背闸电极拦截但仍可穿过该Mo薄膜;以及在该光阻图案之光罩下蚀刻该Mo薄膜,以形成一以自我对准方式具有与该光阻图案相符之几何的顶闸电极。
申请公布号 TW200423207 申请公布日期 2004.11.01
申请号 TW093104947 申请日期 2004.02.26
申请人 富士通股份有限公司 发明人 原明人
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本