Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens.,申请号DE19853587946-传众专利搜索

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发明名称	Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
摘要
申请公布号	DE3587946(D1)	申请公布日期	1994.12.22
申请号	DE19853587946	申请日期	1985.08.07
申请人	BLAZEK, VLADIMIR, DR.-ING., 5100 AACHEN, DE;SEIDENBERG, JUERGEN, DIPL.-ING., 5100 AACHEN, DE	发明人	BLAZEK, VLADIMIR, DR.-ING., 5100 AACHEN, DE;SEIDENBERG, JUERGEN, DIPL.-ING., 5100 AACHEN, DE
分类号	G01J3/51;G01J9/00;(IPC1-7):G01J9/00	主分类号	G01J3/51
代理机构		代理人
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