发明名称 晶圆抗蚀刻剂制程设备以及其制造方法
摘要 本发明系关于一种晶圆制程设备,其系藉由将一膜电极沈积于一基底基板之表面上而制造,接着为该结构涂布一保护涂膜层,该保护涂膜层包含一选自由B、Al、Si、Ga、耐火硬金属、过渡金属组成之群中之元素的一氮化物、碳化物、碳氮化物或氮氧化物及其组合物中的至少一者。该膜电极具有一密切匹配该下方基底基板层之热膨胀系数(CTE)以及该保护涂层之CTE的CTE。
申请公布号 TW200737400 申请公布日期 2007.10.01
申请号 TW095145670 申请日期 2006.12.07
申请人 奇异电器公司 发明人 范伟;艾杰特 赛恩;杰佛瑞 连纳兹;金太元
分类号 H01L21/683(2006.01) 主分类号 H01L21/683(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国