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发明名称 Halbleiterspeichervorrichtung mit einem Testmodus und einem Standardmodusbetrieb.
摘要
申请公布号 DE3789987(T2) 申请公布日期 1994.12.15
申请号 DE19873789987T 申请日期 1987.03.24
申请人 NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 MIZUKAMI, TAKESHI C/O NEC CORPORATION, MINATO-KU TOKYO, JP
分类号 G11C11/401;G11C11/406;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/08;G11C29/12;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00;G06F11/26 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
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