| 发明名称 |
METHOD OF TESTING DIGITAL INTEGRATED MICROCIRCUITS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU1417613(C) |
申请公布日期 |
1994.12.15 |
| 申请号 |
SU19864127457 |
申请日期 |
1986.06.24 |
| 申请人 |
YUSUPOV V.T.;KHMARTSEV V.S. |
发明人 |
YUSUPOV V.T.;KHMARTSEV V.S. |
| 分类号 |
G01R31/317;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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