发明名称 电子装置
摘要
申请公布号 TWM353421 申请公布日期 2009.03.21
申请号 TW097218634 申请日期 2008.10.17
申请人 华矽半导体股份有限公司 MOSART SEMICONDUCTOR CORP. 台北县板桥市民生路1段33号23楼 发明人 郭大经;赵祖望;葛士豪;沈介俊
分类号 G06F3/041 (2006.01) 主分类号 G06F3/041 (2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 1.一种电子装置,包含:一讯号量测器,用以在一主系统产生一参考讯号时,量测该参考讯号;一杂讯分析器,用以在该参考讯号之周期时间中找出至少一杂讯发生期间,其中在该杂讯发生期间内,该主系统会对一触感测器造成杂讯干扰;一资料储存器,用以根据该参考讯号之周期时间中的该杂讯发生期间,储存一参考资料;以及一杂讯过滤器,用以在每当该主系统产生该参考讯号时,根据该参考资料,于该杂讯发生期间内,关闭该触感测器。2.如请求项1所述之电子装置,更包含:一感测启动器,用以在每当该主系统产生该参考讯号时,根据该参考资料,于该杂讯发生期间以外的时间,启动该触感测器。3.如请求项1所述之电子装置,其中该资料储存器为一记忆体。4.一种电子装置,包含:一杂讯记录器,用以根据一参考讯号之周期时间中的一杂讯发生期间,预载一参考资料;以及一杂讯过滤器,用以当一主系统周期性地产生该参考讯号时,根据该参考资料,于该杂讯发生期间,关闭一触感测器。5.如请求项4所述之电子装置,其中该杂讯记录器包含:一讯号量测模组,用以在该主系统产生该参考讯号时,量测该参考讯号;一杂讯分析模组,用以在该参考讯号之周期时间中找出至少一杂讯发生期间,其中在该杂讯发生期间内,该主系统会对一触感测器造成杂讯干扰;以及一资料储存模组,用以根据该参考讯号之周期时间中的该杂讯发生期间,储存该参考资料。6.如请求项5所述之电子装置,其中该资料储存模组为一记忆体。7.如请求项4所述之电子装置,更包含:一感测启动器,用以在每当该主系统产生该参考讯号时,根据该参考资料,于该杂讯发生期间以外的时间,启动该触感测器。8.一种电子装置,包含:一触感测器,用以周期性地产生一触控讯号,其中该触控讯号之周期时间小于一参考讯号之周期时间;一杂讯记录器,用以根据在一参考讯号之周期时间中受到一主系统杂讯干扰之该触控讯号,预载一参考资料;以及一杂讯过滤器,用以当该主系统周期性地产生该参考讯号时,根据该参考资料,把受到杂讯干扰之该触控讯号的位准降低。9.如请求项8所述之电子装置,其中该杂讯记录器包含:一讯号量测模组,用以在该主系统产生该参考讯号时,量测该参考讯号;一杂讯分析模组,用以在该参考讯号之周期时间中找出受到该主系统杂讯干扰之该触控讯号;以及一资料储存模组,用以根据在该参考讯号之周期时间中遭受到该主系统杂讯干扰之该触控讯号,储存该参考资料。10.如请求项9所述之电子装置,其中该资料储存模组为一记忆体。11.如请求项8所述之电子装置,其中该杂讯过滤器包含:一感测关闭模组,用以当该主系统周期性地产生该参考讯号时,根据该参考资料,在该触控讯号遭受到该主系统杂讯干扰时,关闭该触感测器。12.如请求项11所述之电子装置,其中该杂讯过滤器包含:一感测启动模组,用以在每当该主系统产生该参考讯号时,根据该参考资料,在该触控讯号未遭受到该主系统杂讯干扰时,启动该触感测器。图式简单说明:第1图是依照本创作一实施例的一种电子装置的功能方块图。第2图是多种讯号的时序图。第3图是依照本创作另一实施例的一种电子装置的功能方块图。第4图是第3图之杂讯记录器310的功能方块图。第5图是依照本创作再一实施例的一种电子装置的功能方块图。第6图是第4图之杂讯过滤器530的功能方块图。第7图是第4图之杂讯记录器520的功能方块图。
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