发明名称 GND BUFFER CIRCUIT FOR IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH06331700(A) 申请公布日期 1994.12.02
申请号 JP19930140102 申请日期 1993.05.19
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 TORII HAJIME;KITATSUME AKIHIRO;OSHIKI MASAHIRO
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利