| 发明名称 |
A semiconductor memory device comprising a test circuit and a method of operation thereof |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2248706(B) |
申请公布日期 |
1994.11.30 |
| 申请号 |
GB19910018276 |
申请日期 |
1991.08.23 |
| 申请人 |
* MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA |
发明人 |
SHIGERU * MORI;MAKOTO * SUWA;HIROSHI * MIYAMOTO;YOSHIKAZU * MOROOKA;SHIGERU * KIKUDA;MITSUYA * KINOSHITA |
| 分类号 |
G11C11/409;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/34;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/409 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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